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      PT-308T
      PT-308T
      8英寸高精度探針臺
      高精度定位平臺(定位精度±3微米)
      可用于多芯同時探測,提升產能效益
      可搭配直流針座測試,最多支持4個針座安裝
      高精度CCD視覺定位系統,自動化程度高
      獨特的移動面板,可實現異位打點、全掃描、墨點識別、精度自動校正等功能
      應用領域

      適用于8英寸及以下的集成電路、功率器件類晶圓測試

      主要功能
      自動打點
      MAP圖實時顯示、存儲產品
      自動清針功能
      晶圓ID自動讀取
      自動晶圓對準功能
      針痕檢測功能
      自動清針功能
      測試應用
      大電流測試
      射頻測試
      遮光測試
      高壓測試
      高溫測試
      壞點重測
      特殊應用
      無Notch預對準
      遮光處理
      咨詢/投訴
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