分立器件

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PT-306

PT-306

6英寸半自動探針臺

可搭配直流針座測試，支持6個針座安裝
高精度CCD視覺定位系統，自動化程度高
可選配高溫、高壓測試模塊，適應更多產品測試要求
可選遮光測試

應用領域

適用于6英寸及以下的集成電路、功率器件類晶圓測試

主要功能

自動打點

自動晶圓對準功能

自動清針功能

MAP圖實時顯示、存儲產品

測試應用

大電流測試

遮光測試

高壓測試

高溫測試

壞點重測

特殊應用

無Notch預對準

遮光處理

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適用于5～8英寸集成電路晶圓的自動探針測試。整機特別針對集成電路多芯多探針及高定位精度的測試需求進行設計，可以滿足2000根探針以下的單芯或多芯測試，配備全自動上下片系統，具有高精度、高剛性，高穩定性的特點；自動對針提高了對準精度，方便客戶多針、多芯測試需要

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