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PT-903II
PT-903II
8英寸全自動探針臺
配備高可靠性的自動上下片系統
可用于多芯同時探測,大大提升產能效益
可搭配直流針座測試,最多支持4個針座安裝
高精度CCD視覺定位系統,自動化程度高
應用領域
適用于8英寸及以下的集成電路、功率器件類晶圓測試
主要功能
晶圓ID自動讀取
自動打點
自動晶圓對準功能
自動清針功能
MAP圖實時顯示、存儲產品
測試應用
高壓測試
高溫測試
大電流測試
壞點重測
特殊應用
無Notch預對準
遮光處理
咨詢/投訴
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適用于8英寸及以下集成電路、功率器件類晶圓測試
PT-9200
8英寸全自動探針臺
適用于5~8英寸集成電路晶圓的自動探針測試。整機特別針對集成電路多芯多探針及高定位精度的測試需求進行設計,可以滿足2000根探針以下的單芯或多芯測試,配備全自動上下片系統,具有高精度、高剛性,高穩定性的特點;自動對針提高了對準精度,方便客戶多針、多芯測試需要
PT-920B
8英寸全自動探針臺
適用于8英寸及以下的集成電路、功率器件類晶圓測試
PT-920B
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適用于5~8英寸集成電路晶圓的自動探針測試。整機特別針對集成電路多芯多探針及高定位精度的測試需求進行設計,可以滿足1000根探針以下的單芯或多芯測試,配備全自動上下片系統,具有高精度、高剛性,高穩定性的特點。自動對針提高了對準精度,方便客戶多針、多芯測試需要
PT-308
8英寸半自動探針臺
適用于8英寸及以下的集成電路、功率器件類晶圓測試
PT-308
8英寸半自動探針臺
適用于4~8英寸集成電路及分立器件芯片的自動測試
PT-308T
8英寸高精度半自動探針臺
適用于8英寸及以下的集成電路、功率器件類晶圓測試
PT-308T
8英寸高精度半自動探針臺
適用于 4~8 英寸集成電路與分立器件晶圓的自動測試。本機具備有多樣靈活的測試方式及豐富的 MAPPING 處理功能。產品設計滿足了多芯、長針卡測試的需要,并可根據測試需求選配視覺系統實現自動掃描、定位,還可增配進行高溫、高壓測試
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