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      PT-9200
      PT-9200
      8英寸全自動探針臺
      高精度定位平臺(定位精度±2微米)
      獨特機械手吸附技術,解決Taiko/超薄/翹曲等晶圓片無損自動上下料傳輸
      可滿足2000根探針測試,用于多芯同時探測,提升產能效益
      高精密光學模組,結合最新圖像軟件算法,實現探針自動精確定位,安全可靠全自動測試
      CHUCK模塊化設計,選配、更換更加便捷
      搭載大尺寸的磨針臺,適應不同的磨針方式
      適配多種類型的測試機
      應用領域
      適用于8英寸及以下的集成電路、功率器件類晶圓測試
      測試應用
      先進封裝測試
      高壓測試
      WAT測試
      大電流測試
      壞點重測
      WAT測試
      晶圓無損轉運測試
      高溫測試
      RF射頻測試
      高低溫測試
      主要功能
      CHUCK自動清理功能
      晶圓ID自動讀取
      自動打點
      晶圓厚度自動檢測功能
      自動晶圓對準功能
      自動對針功能
      針痕檢測功能
      自動清針功能
      MAP圖實時顯示、存儲產品
      特殊應用
      無Notch預對準
      遮光處理
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