光電芯片測試

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LDM-150-WF

LDM-150-WF

倒裝LED測試一體機

探針測試一體化式設計，測試可靠，精度高
特有的圖像處理算法，效率更高，定位更精準
主動式針壓調整技術，針痕控制更可靠
測試波段可覆蓋紫外（UVC/UVB/UVA）、藍光、綠光、黃光、紅光、白光等（可選）
測試系統通道數量覆蓋單芯，多芯（可選）
支持多種電流源檔位
ESD包含多種規格
支持常規電性參數，光性參數包含多種規格
支持Mini、Microv LED擋位

應用領域

LED芯片測試，LED成品模組測試

主要功能

NG點重測功能

外圍縮點和空洞縮點功能

空洞點定位（0，0）點功能

任意點抽測功能

先抽測再全測功能

擴張邊/自定義/探邊測試功能

光參數抽測代值

支持外圈全測內圈抽測

支持內外圈不同測試條件

不同通道不同測試條件

自動區域異常重測

支持與MES連接，自動加載產品檔

多Mapping實時顯示

自動清針功能

主動式探邊器針壓實時顯示自動調整

自動對準及快速掃描定位功能

自動磨針功能

自動輸出稼動率報表功能

測試數據自動分BIN功能

測試應用

倒裝LED COT抽測

倒裝FQA抽測

特殊應用

咨詢/投訴

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