探針測試一體化式設計，測試可靠，精度高
全自動上下片系統，支持雙cassette測試
wafer支持平邊或Notch兩種定位方式
支持4，6寸兩種產品（需更換CHUCK）
精準芯粒掃描與自定義測試結合，定位準確
專利積分球檔位自動識別技術
主動式針壓調整技術，針痕控制更可靠
測試波段覆蓋紫外（UVC/UVB/UVA）、藍光、綠光、黃光、紅光、白光等（可選）
電流源檔位1.5A@200V
ESD包含多種規格，具備業內較長的ESD使用壽命（可選）
支持常規電性參數，光性參數包含WLP/WLD/WLC/HW/PURITY/CIE-x/CIE-y/CCT/RA/R1-R15
支持Mini、Microv LED擋位