?探針測試一體化式設計，測試可靠，精度高
?全自動上下片系統，支持雙cassette測試
wafer支持平邊或Notch兩種定位方式
兼容4，6吋的晶圓測試
精準芯粒掃描與自定義測試結合
主動式針壓調整技術，針痕控制可靠
快速升降溫系統（可選）
測試波段覆蓋紫外（UVC/UVB/UVA）、藍光、綠光、黃光、紅光、白光等（可選）
電流源檔位1.5A@200V
ESD包含多種規格，具備業內較長的ESD使用壽命.（可選）
支持常規電性參數，光性參數包含WLP/WLD/WLC/HW/PURITY/CIE-x/CIE-y/CCT/RA/R1-R15
支持Mini、Microv LED擋位