?探針測試一體化式設計，測試可靠精度高
獨特圖像處理算法，掃描效率高，定位精準
專利積分球檔位自動識別技術，使用更方便
主動式針壓調整技術，針痕控制更可靠
專利調針換針結構設計，操作更快捷
測試波段覆蓋紫外（UVC/UVB/UVA）、藍光、綠光、黃光、紅光、白光等(可選)
測試系統通道數量覆蓋單芯、4芯、8芯（可選）
電流源檔位支持多種規格（可選）
ESD包含多種規格，并具備業內較長的ESD使用壽命（可選）
支持常規電性參數測試，光性參數包含WLP/WLD/WLC/HW/PURITY/CIE-x/CIE-y/CCT/RA/R1-R15
支持Mini、Microv LED擋位