探針測試一體化式設計，測試可靠性精度高
XY全閉環控制系統，定位精度更可靠
獨特圖像處理算法，掃描效率高，定位精準
專利積分球檔位自動識別技術
全自動對針功能,多針對針更容易
針痕檢測功能
測試波段覆蓋紫外（UVC/UVB/UVA）、藍光、綠光、黃光、紅光、白光等（可選）
測試系統通道數量覆蓋16芯、32芯（可選）
電流源檔位包含多種規格
ESD包含多種規格，具備業內較長的ESD使用壽命（可選）
支持常規電性參數測試，光性參數包含WLP/WLD/WLC/HW/PURITY/CIE-x/CIE-y/CCT/RA/R1-R15
支持Mini、Microv LED擋位