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PT-308
8英寸半自動探針臺
適用于8英寸及以下的集成電路、功率器件類晶圓測試
PT-308
8英寸半自動探針臺
適用于4~8英寸集成電路及分立器件芯片的自動測試
PT-308T
8英寸高精度半自動探針臺
適用于8英寸及以下的集成電路、功率器件類晶圓測試
PT-308T
8英寸高精度半自動探針臺
適用于 4~8 英寸集成電路與分立器件晶圓的自動測試。本機具備有多樣靈活的測試方式及豐富的 MAPPING 處理功能。產品設計滿足了多芯、長針卡測試的需要,并可根據測試需求選配視覺系統實現自動掃描、定位,還可增配進行高溫、高壓測試
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